Galaxy Ring -tapaus: Samsungin selvitys löysi halkeaman, ei akkuvikaa

Samsung on saanut päätökseen selvityksensä Galaxy Ring -tapauksesta, joka vei tekniikkabloggaajan sairaalaan. Yhtiön mukaan laite ei aiheuta laaja-alaista akkuturvallisuusriskiä. Yhtiö päätyi siihen, että episodi johtui sisäisen valukotelon komponenttiin syntyneestä halkeamasta, ei akun viasta. Viesti rauhoittaa akkujen osalta, vaikka vastaus ei kerro, miksi halkeama syntyi.

Tapaus sattui viime vuoden lokakuussa ja tuli julki, kun ZONEofTECH-nimellä tunnettu bloggaaja kertoi sormuksen äkisti turvonneen hänen sormessaan juuri ennen lentokoneeseen nousua. Laite alkoi kiristyä niin, ettei sitä saanut itse irti; Danielilta evättiin pääsy lennolle ja hänet vietiin sairaalaan, jossa turvotus laskettiin ja sormus poistettiin.

Bloggaajan julkaisut sisälsivät kuvia, joissa näkyi kerrosten irtoamista Galaxy Ringin sisältä. Se herätti ymmärrettävästi heti huolen mahdollisesta akkuviasta. Vastauksena Samsung käynnisti sisäisen tarkastuksen ja pyysi lisäksi riippumatonta kolmatta osapuolta tekemään lisäanalyysin.

Danielin mukaan molemmat selvitykset päätyivät samaan: turvotus johtui sisäisen valurakenteen mekaanisesta vauriosta. Samsung myönsi, ettei halkeaman tarkkaa alkuperää pystytty selvittämään, mutta korosti, että tapaus ei viittaa laajempaan ongelmaan eikä liity Galaxy Ringin, jatkuvaan käyttöön suunnitellun tuotteen, akkuriskeihin. Selkeys on tervetullutta, vaikka ratkaisematon perimmäinen syy jättääkin pienen kysymysmerkin.