Danny Weber
14:49 15-04-2026
© D. Novikov
Wetenschappers presenteren een experimentele methode om transistoractiviteit in werkende cpu's te observeren, met voordelen voor chipanalyse en potentiële beveiligingsrisico's.
Wetenschappers hebben een experimentele technologie gepresenteerd die het mogelijk maakt om in realtime de activiteit van transistors in een centrale verwerkingseenheid te observeren. Hoewel deze methode nieuwe mogelijkheden biedt, brengt ze ook potentiële risico's voor de gegevensbeveiliging met zich mee.
De techniek maakt gebruik van laboratoriumapparatuur - een vectornetwerkanalyzer - die een microgolfsignaal met een specifieke frequentie en fase genereert. Dit signaal wordt vervolgens omgezet in terahertzstraling en gericht op een werkende microchip, waar het weerkaatst op actieve transistors.
De gereflecteerde signalen keren terug naar een ontvanger en worden vergeleken met de oorspronkelijke waarden. Kleine veranderingen in amplitude en fase stellen onderzoekers in staat om interne processoractiviteit te detecteren. Om de nauwkeurigheid te verbeteren, pasten het team de apparatuur aan en gebruikten ze een homodyne detector, die extreem zwakke signaalvariaties kan onderscheiden tegen achtergrondruis.
Een belangrijk voordeel van deze methode is dat ze letterlijk 'in een werkende processor kan kijken', iets wat traditionele diagnostische hulpmiddelen niet toelieten. Dit opent nieuwe perspectieven voor het testen en analyseren van complexe chips.
De technologie kent echter ook aanzienlijke beperkingen. Complexe meerlaagse processors met 3D-architecturen maken het moeilijk om signaalbronnen nauwkeurig te lokaliseren, en apparatuurruis kan de resultaten verstoren. Experts waarschuwen bovendien voor een potentieel beveiligingsrisico: in theorie zou de technologie gegevensextractie tijdens processorwerking mogelijk kunnen maken, waarbij traditionele versleutelingsmethoden worden omzeild.