Forskere presenterer teknologi for å observere prosessorer i sanntid

Forskere har presentert en eksperimentell teknologi som muliggjør observasjon i sanntid av transistorer i en sentralprosessor. Selv om metoden tilbyr nye muligheter, innebærer den også potensielle alvorlige risikoer for datasikkerhet.

Teknikken baserer seg på laboratorieutstyr – en vektornettverksanalysator – som genererer et mikrobølgesignal med en bestemt frekvens og fase. Dette signalet konverteres deretter til terahertz-stråling og rettes mot en mikroprosessor i drift, hvor det reflekteres fra aktive transistorer.

Reflekterte signaler returnerer til en mottaker og sammenlignes med de opprinnelige verdiene. Små endringer i amplitude og fase lar forskerne oppdage intern prosessoraktivitet. For å forbedre nøyaktigheten modifiserte teamet utstyret og brukte en homodyn-detektor, som kan skille ekstremt svake signalvariasjoner fra bakgrunnsstøy.

En viktig fordel med denne metoden er dens evne til å bokstavelig talt «kikke inn i» en fungerende prosessor, noe tradisjonelle diagnostiske verktøy ikke har tillatt. Dette åpner nye muligheter for testing og analyse av komplekse brikker.

Imidlertid har teknologien betydelige begrensninger. Komplekse flerlagsprosessorer med 3D-arkitekturer gjør det vanskelig å lokalisere signalkilder nøyaktig, og utstøysstøy kan forvrenge resultatene. Eksperter advarer også om en potensiell sikkerhetstrussel: i teorien kan teknologien muliggjøre datautvinning under prosessordrift, og dermed omgå tradisjonelle krypteringsmetoder.