Forskare presenterar en teknik som möjliggör realtidsövervakning av transistorer i processorer med terahertzstrålning, vilket öppnar för testning men medför potentiella datasäkerhetsrisk.
© D. Novikov
Forskare har presenterat en experimentell teknik som möjliggör realtidsövervakning av transistorer i en processor. Metoden erbjuder nya möjligheter, men medför också potentiella risker för datasäkerhet.
Tekniken bygger på laboratorieutrustning – en vektornätverksanalysator – som genererar en mikrovågssignal med specifik frekvens och fas. Denna signal omvandlas sedan till terahertzstrålning och riktas mot en aktiv mikrochip, där den reflekteras av aktiva transistorer.
De reflekterade signalerna återvänder till en mottagare och jämförs med ursprungsvärdena. Små förändringar i amplitud och fas gör att forskarna kan upptäcka intern processoraktivitet. För att öka noggrannheten modifierade teamet utrustningen och använde en homodyn detektor, som kan urskilja extremt svaga signalvariationer mot bakgrundsbrus.
En viktig fördel med denna metod är att den bokstavligen låter en ”titta inuti” en fungerande processor, något som traditionella diagnostiska verktyg inte tillåtit. Detta öppnar nya möjligheter för testning och analys av komplexa chips.
Men tekniken har betydande begränsningar. Komplexa flerskiktsprocessorer med 3D-arkitekturer gör det svårt att lokalisera signaler exakt, och utrustningsbrus kan förvränga resultaten. Experter varnar också för en potentiell säkerhetsrisk: i teorin skulle tekniken kunna möjliggöra dataextraktion under processoroperation, vilket kringgår traditionella krypteringsmetoder.