Galaxy Ring騒動の調査結果：バッテリー起因でなく、樹脂成形部品の亀裂が原因

サムスンは、テック系ブロガーが病院に運ばれたGalaxy Ringの一件について調査を終え、製品にシステム全体に関わるバッテリー安全性のリスクはないと結論づけた。原因はバッテリーの不具合ではなく、内蔵された樹脂成形ハウジング部品に生じた亀裂だったという。バッテリー面での懸念はひとまず和らいだ格好だが、その亀裂がなぜ起きたのかまでは明らかになっていない。

この出来事は昨年10月に発生。ZONEofTECHとして知られるブロガーが、フライトの搭乗直前にリングが指で突然膨張したと伝えたことで公になった。デバイスは締め付けを強め、自力で外すことができず、Danielは搭乗を拒否されて病院へ。そこで腫れを先に引かせ、その後リングは取り外された。

ブロガーの投稿には、Galaxy Ring内部で層間剥離が起きているように見える写真も含まれており、バッテリー欠陥の可能性への不安が一気に広がった。サムスンはこれを受けて社内調査を開始し、追加分析のため独立した第三者機関にも依頼した。

Danielの説明では、両方の調査は同じ結論に達した。腫れの発端は、内蔵モールドの機械的な損傷だったという。サムスンは亀裂の正確な発生起点は特定できなかったものの、事象は広範な問題を示すものではなく、常時装着を想定したGalaxy Ringのバッテリー上のリスクとも無関係だと強調した。説明は安心感をもたらす一方で、原因が解き明かされていない点には、やはり小さな疑問符が残る。